Resultados

La implementación de nuestros laboratorios remotos de Industria 4.0 de código abierto en otras instituciones tomará solo alrededor de 2 horas por laboratorio para la configuración completa del software y el hardware, cuando normalmente llevaría varios meses de trabajo.

Esto promoverá un efecto en cascada, que propiciará el desarrollo de muchos más laboratorios en línea basados en nuestras plataformas, al ser de código abierto, lo que hará crecer la comunidad de la Industria 4.0.

Arduino IoT Lab
Laboratorio remoto de industria 4.0 basado en microcontroladores PIC

Artículos en conferencias:

  • Sergio Martin, Manuel Castro, Elio San Cristóbal, Gabriel Díaz, Blanca Quintana, Rosario Gil, Félix García Loro, Clara Pérez, Pedro Plaza, África López-Rey, German Carro Fernández, Antonio Robles-Gómez, Miguel Rodríguez-Artacho, Llanos Tobarra , José A. Rupérez-Valiente. Assessment and Recognition in Technical Massive Open On-Line Courses With and Without On-Line Laboratories. EDUCON 2023. 1-4 Mayo, 2023. Salmayia, Kuwait.
  • Santiago R. Urbano, Gabriel Diaz and Sergio Martin, IoT Cybersecurity Virtual Laboratory Based On MQTT, ICL2023 – 26th International Conference on Interactive Collaborative Learning, pp 1061-1068, 26–29 September 2023, Hotel NH Ventas.

Artículos de revista:

  • Gomez-Alonso A., Martin S. and Castro M., Development of an IoT remote laboratory based on PIC microcontrollers, DYNA New Technologies, January-December 2023, vol. 10, no. 1, p.[10P.]. DOI: https://doi.org/10.6036/NT10828
  • A. Gómez-Alonso, S. Martin, M. Castro. Industry 4.0 remote lab based on PIC microcontrollers. Dyna, Julio-Agosto 2023, vol. 98, issue 4, pp. 72-84-9. Print ISSN: 0012-7361.EISSN: 1989-1490
  • Delgado, I.; Sancristobal, E.; Martin, S.; Robles-Gómez, A. Exploring IoT Vulnerabilities in a Comprehensive Remote Cybersecurity Laboratory. Sensors 202323, 9279. https://doi.org/10.3390/s23229279
  • Rejón, C.; Martin, S.; Robles-Gómez, A. Easy Development of Industry 4.0 Remote Labs. Electronics 2024, 13(8), 1508. https://doi.org/10.3390/electronics13081508